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IC的測試是一個相當復雜的系統工程,無法簡單地告訴你怎樣判定是合格還是不合格。 一般說來,是根據設計要求進行測試,不符合設計要求的就是不合格。而設計要求,因產品不同而各不相同,有的IC需要測試大量的參數,有的則只需要測試很少的參數。 事實上,一個具體的IC,并不一定要經歷上面提到的全部測試,而經歷多道測試工序的IC,具體在哪個工序測試哪些參數,也是有很多種變化的,這是一個復雜的系統工程。 例如對于芯片面積大、良率高、
2020-10-13 929