IC測試座如何應(yīng)對高速IC測試帶來的挑戰(zhàn)?
2020-10-13 13:34:15
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當今, IoT、5G、智能駕駛技術(shù)正以令人難以置信的腳步快速發(fā)展,帶來了對更高網(wǎng)絡(luò)傳輸速率的需求。這些技術(shù)發(fā)展都離不開芯片的應(yīng)用。
一些芯片如GPU,APU,以太網(wǎng)、網(wǎng)絡(luò)服務(wù)器等類型的芯片尺寸越來越大,功率也越來越大,傳輸速率越來越高,各種封裝技術(shù)不斷更新迭代,SIP,AIP,3DFO等等。測試硬件需要同時滿足這些應(yīng)用要求,同時兼具穩(wěn)定性,可靠性。
這對測試工程師和測試socket的生產(chǎn)廠家都帶來了極大的挑站。測試socket作為連接芯片和測試主板的重要組成部分,在中起著至關(guān)重要的作用。面對更高的電流,更高速的信號傳輸,socket不僅需要滿足這些要求,還需要保證的測試的穩(wěn)定性。